olympus 奧林巴斯BX51-P偏光顯微鏡BX51-P偏光顯微鏡

描述：奧林巴斯BX51-P偏光顯微鏡憑借其光學性能、人性化的操作設計以及豐富的附件支持，在多個領域發揮著重要作用。

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產品詳情/ PRODUCT DETAIL

產品概述

品牌	OLYMPUS/奧林巴斯

偏振光用物鏡選型推薦

　　若需實現最小光學失真的偏振光觀察，可從ACHN-P、UPLFLN-P兩大系列物鏡中選型。其中，UPLFLN-P系列為通用型物鏡，適用于微分干涉觀察、紫外線激發熒光觀察等場景，可滿足偏振光觀察在內的多種研究與檢查需求。

　　EF值說明：指平行尼科爾與正交尼科爾的亮度比較，EF值越高，光學失真越少，偏振光特性越優異。

　　觀察影像實例

　　石英閃長巖中的斜長石帶狀結構

　　液晶MBBA(甲氧基氨基聯苯丁基苯胺)

　　UPLFLN-P系列物鏡規格

　　ACHN-P系列物鏡規格

　　奧林巴斯BX51-P偏光顯微鏡性能說明

　　一、機體核心性能

　　采用人機工程學Y形框架設計，操作舒適便捷，可顯著降低長時間觀察的疲勞感，提升觀察效率。視場數達22，相較于常規視場數20的顯微鏡，觀察范圍拓寬21%；照明系統配置12V/100W高亮鹵素燈，能呈現明亮逼真的偏振光影像，兼顧操作便捷性與觀察清晰度。

　　二、載物臺性能

　　配備帶旋轉中心輸出機構的旋轉載物臺，樣品旋轉流暢，且每45°設有鎖定機構，進一步提升觀察效率；載物臺集成復式機械載物臺，可精準控制樣品細微移動，適配高精度偏振光觀察需求。

　　三、高級偏振光觀察附件

　　1. 偏振光性能優化附件

　　全面改良偏振光用聚光鏡與偏振光板設計，搭配高性能補償板，大幅提升偏振光性能，實現高EF值、高對比度觀察，光學失真更小(EF值：平行尼科爾和正交尼科爾亮度比較，值越高偏振光特性越優)。

　　2. 補償板規格及用途

補償板型號	類型	延遲測量范圍	主要用途
U-CTB	厚型Berek	0-11,000nm	較大延遲測量（R*＞3λ），適用于結晶、高分子、纖維、光彈性失真等
U-CBE	Berek	0-1,640nm	延遲測量，適用于結晶、高分子、纖維、生物體組織等
U-CSE	Senarmont	0-546nm	延遲測量（結晶、生物體組織等）；對比度增強（生物體組織等）
U-CBR1	Brace-Kohler（1/10λ）	0-55nm	微小延遲測量（結晶、生物體組織等）；對比度增強（生物體組織等）
U-CBR2	Brace-Kohler（1/30λ）	0-20nm	微小延遲測量（結晶、生物體組織等）；對比度增強（生物體組織等）
U-CWE2	石英楔子	500-2,200nm	延遲近似測量（結晶、高分子等）

　　注：R表示延遲；為提高測量精度，建議除U-CWE2外，其余補償板均搭配干涉濾鏡45IF546使用。

　　四、影像觀察與記錄

　　搭載錐光鏡/正像鏡觀察單元，操作簡便即可切換兩種觀察模式，且可對焦錐光鏡影像；配備伯特蘭透鏡，即使針對樣本微小范圍，也能呈現逼真錐光鏡影像與正像鏡影像。

　　三目觀察筒支持連接數碼照相機，可便捷保存、記錄數碼影像，助力檢查報告制作；可根據畫面質量、功能、操作性等需求選型照相機，搭配奧林巴斯專用圖像分析軟件(專為工業顯微鏡設計，具備直觀操作菜單與高級例行程序)，可定制適配特定應用場景的圖像分析與管理方案。

　　olympus 奧林巴斯BX51-P偏光顯微鏡

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